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名稱： 激光雷達干擾高準直點光源
型號： LidarHCPLS-200
品牌： 努美科技
激光雷達干擾高準直點光源在有效輻照范圍內(nèi)可實現(xiàn)近似太陽準直角且達到1個太陽常數(shù)（即正常戶外情況下的***強太陽光強度），可用于車燈測試、座艙測試、環(huán)境光測試、HUD測試等等。
點光源產(chǎn)生的干擾
光學(xué)干擾：點光源的高亮度直接照射激光雷達接收端，可能使接收端的光電探測器達到光學(xué)飽和，無法正確接收目標反射信號。同時，強光還可能引起光學(xué)噪聲，掩蓋微弱的目標反射信號，降低激光雷達的探測性能。
電磁干擾：部分點光源在工作時會產(chǎn)生強烈的電磁輻射，這些電磁輻射可能會進入激光雷達的接收系統(tǒng)，導(dǎo)致電磁兼容性問題，影響接收系統(tǒng)對激光回波信號的正常接收和處理，進而干擾激光雷達的正常工作。
信號混淆：點光源產(chǎn)生的強信號在時間、頻率或空間等維度上與激光雷達的目標回波信號相似時，信號處理技術(shù)難以區(qū)分真實目標和干擾源，容易導(dǎo)致誤判或漏判，影響激光雷達對目標的識別和定位。
點光源產(chǎn)生的干擾對激光雷達的影響
探測距離縮短：由于點光源的干擾，激光雷達接收端接收到的有效信號減弱，使得其能夠探測到的目標距離縮短，無法滿足對遠距離目標的探測需求。
探測精度降低：點光源引起的光學(xué)噪聲和信號混淆會使激光雷達對目標位置、形狀等信息的測量產(chǎn)生誤差，導(dǎo)致探測精度降低，影響目標定位的**性，進而影響后續(xù)的決策和控制。
系統(tǒng)穩(wěn)定性下降：強烈的電磁輻射等干擾可能導(dǎo)致激光雷達系統(tǒng)的電子元件工作異常，出現(xiàn)誤操作或故障，降低系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性，影響激光雷達的正常運行。
主要特點
模擬真實太陽光的光譜特性；
接近太陽光的準直角；
接近太陽光的均勻度；
良好的不穩(wěn)定度；
主要參數(shù)
有效光斑尺寸：φ200mm
工作距離：8m
光源出射孔徑：φ70mm-200mm可選
燈泡類型：氙燈
光譜范圍：350-2500nm可選
準直角：≥±0.3°
光源輻照強度：1200W/㎡
輻照不穩(wěn)定性：≤2%
有效光斑輻照均勻性：≥90%
照度與能量調(diào)節(jié)范圍：50-100%
應(yīng)用：該設(shè)備用于模擬太陽光直射，以點光源形式直接照射激光雷達。
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